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參加人數

議題提供單位


工研院巨量資訊科技中心為國內第一個以推動巨量資料技術與產業為任務的科技研發中心,透過建立智慧分析技術,協助資訊軟體業建立知識經濟核心能力;並切入智慧分析應用,協助相關產業提昇生產力、創造新商機。巨量資訊科技中心針對跨領域的需求,提供產業所需的智慧分析與機器學習演算法等核心技術,建構AI人工智慧、巨量資料分析應用所需之運算平台,以AI人工智慧與巨量資料之創新應用情境來進行服務設計與商業模式,提供全方位的AI人工智慧與巨量資料解決方案。

簡介

自動光學檢查(簡稱AOI)[1],為高速高精度光學影像檢測系統,運用機器視覺做為檢測標準技術,可改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點,應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管,以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。工研院電光所投入軟性電子顯示器之研發多年,在試量產過程中,希望藉由AOI 技術提升生產品質。本次邀請各界資料科學家共襄盛舉,針對所提供的 AOI 影像資料,來判讀瑕疵的分類,藉以提升透過數據科學來加強 AOI 判讀之效能。

Reference
[1] https://zh.wikipedia.org/wiki/自動光學檢查

活動時間

依照單位指示


評估標準

參與本議題研究者在提供瑕疵預測類別後,系統後台將定期批次處理以計算分數,評估方式採用計算與實際值的相符正確率(Accuracy)。公式如下: $$Accuracy = {\text{Number of correct predictions} \over \text{Number of total predictions}}$$

規則

  • 活動評估結果以最後上傳的結果為基準。
  • 上傳次數限制為 5 次/天。
  • 本議題不允許組隊,同一人只能有一組帳號,人員不得重複參加,違者經確認後會取消參賽資格。
  • 參賽作品所使用之資料、技術與程式碼,均屬參賽者之原創或已取得合法授權,若有任何第三者主張侵害智慧財產權或其他違法情事,均由參賽者自行出面處理;若有侵害他人智慧財產權之情事者,主辦單位將取消競賽及得獎資格,參賽者應自行負擔相關法律責任。
  • 可使用外部合法公開授權之資料集,然為維持活動之公平性,參與者若使用外部資料集,須在討論區留下資料集說明及取得的來源供所有人參考。
  • 參賽成果之智慧財產權歸屬參賽者擁有,其著作授權、專利申請、技術移轉及權益分配等相關事宜,應依相關法令辦理。
  • 主辦單位有權對參賽者進行成績查驗相關措施。
  • 不同帳號禁止交流答案,違者視同舞弊。
  • 若活動發生舞弊行為,則舞弊之參賽者將被取消參加資格。
  • 測試資料的答案上傳後,將分為兩部份計算:
    • 活動時間截止前,系統僅參照部份測試資料的真實數值(Ground Truth)來驗證與計算分數,並公佈於 Public Leaderboard;此資料佔全部測試資料的 40%。
    • 活動時間截止後,系統將會參照所有測試資料(60%)的真實數值(Ground Truth)來驗證與計算分數,並公佈於 Private Leaderboard。
  • 禁止使用任何人工方式作答。
  • 未來如有任何爭議,主辦單位將保留最終決定權。
  • 主辦單位有權因需要調整賽程及相關規定。