工業技術研究院電子與光電系統研究所由電子工業研究所、光電工業研究所與影像顯示科技中心改組合併而成，透過技術的研發、服務、移轉與成立衍生公司，協助台灣的半導體、封測、LED／OLED、資訊與通訊、軟性顯示器、軟性電子、3D立體影像、透明互動系統…等電子與光電產業提升技術能力。電子與光電系統研究所積極建構優質的環境，開發系統整合及應用導向的前瞻技術，深耕產業自主能力，帶動產業創新，推動新創育成，強化國際及學術合作，推升整體產業價值，創造我國產業的全球競爭力。
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自動光學檢查（簡稱AOI）[1]，為高速高精度光學影像檢測系統，運用機器視覺做為檢測標準技術，可改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點，應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管，以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。工研院電光所投入軟性電子顯示器之研發多年，在試量產過程中，希望藉由AOI 技術提升生產品質。本次邀請各界資料科學家共襄盛舉，針對所提供的 AOI 影像資料，來判讀瑕疵的分類，藉以提升透過數據科學來加強 AOI 判讀之效能。
本議題為開放式議題，提供持續性長期解題，並設有里程碑獎勵，Baseline為前階段的最佳成績，PrivateLeaderboard將不定期更新。
Reference
[1] https://zh.wikipedia.org/wiki/自動光學檢查
本次里程碑設於 2020/11/04 23:59:59，其 Private Leaderboard於 2020/11/05 00:00:00公布，以此成績做為頒獎依據。
Private Leaderboard在里程碑前不定期更新，本階段（04/30-11/04）為每兩週更新一次。
里程碑當日23:59:59前上傳之最終成績，在Private Leaderboard超過Baseline（0.998521）的前三名，驗證程式模型後，將頒發以下獎項：
第一名 hicloud 20 萬點優惠點數
第二名 hicloud 15 萬點優惠點數
第三名 hicloud 10 萬點優惠點數
超過baseline的解題者將可獲頒獎狀乙張
本獎項由中華電信提供
備註1：hicloud 優惠點數可折抵服務費用，折抵完後自動開始依牌價7折計費。
備註2：中華電信保有資格審核、優惠內容修改與中止權利。
備註3：超過Baseline者，模型通過驗證後，始得發放獎品及獎狀。
點數試算範例請參考：https://aidea-web.tw/computing
參與本議題研究者在提供瑕疵預測類別後，系統後台將定期批次處理以計算分數，評估方式採用計算與實際值的相符正確率（Accuracy）。公式如下： $$Accuracy = {\text{Number of correct predictions} \over \text{Number of total predictions}}$$
本議題所提供之影像資料，包含 6 個類別（正常類別 + 5 種瑕疵類別）。
下載資料 aoi.zip 檔案包含：
